| 品牌 | 厂碍驰搁础驰/天瑞仪器 | 应用领域 | 环保,地矿,电子/电池,钢铁/金属,航空航天 |
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天瑞Skyray EDX8000L X荧光考古分析仪
产物说明、技术参数及配置：
仪器介绍：
EDX8000L利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，再对照中国古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效。同时，为了更好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性，我公司根据行业需要制作超大型抽真空样品腔，以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。
EDX8000L型仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到一机多用，是古文物检测的科学检测仪器。中国历史博物馆、中国收藏家协会等古文物收藏部门都是其用户。
标准配置：
超薄窗大面积的原装Fast SDD探测器
数字多道系统
可自动切换型准直器和滤光片
光路增强系统
内置高清晰摄像头
加强的金属元素感度分析器
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
面光源
放大电路
高低压电源
X光管
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型。
叁重安全保护模式
外观尺寸： 800×710×1360 mm
样品腔尺寸：590×550×600尘尘
重量：280kg
应用领域：
古陶瓷
古青铜器
古首饰
镀层测厚
天瑞Skyray EDX8000L X荧光考古分析仪
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